便攜式光學(xué)膜厚儀是利用反射干涉的原理進(jìn)行無(wú)損測(cè)量，可測(cè)量薄膜厚度及光學(xué)常數(shù)。測(cè)量精度達(dá)到埃級(jí)的分辯率，測(cè)量迅速，操作簡(jiǎn)單，界面友好，是具性?xún)r(jià)比的膜厚測(cè)量?jī)x設(shè)備。設(shè)備光譜測(cè)量范圍從近紅外到紫外線，凡是光滑的，透明或半透明的和所有半導(dǎo)體膜層都可以測(cè)量。

 

　　本儀器是使用白光干涉的原理，從而對(duì)樣品表面的膜層進(jìn)行測(cè)量，基本上所有光滑的、半透明的或者地吸收洗漱的薄膜都可以進(jìn)行測(cè)量。

 

　　主要應(yīng)用：

　　光學(xué)鍍層行業(yè)如：硬涂層，抗反射層等涂層厚度測(cè)量；

　　生物醫(yī)學(xué)行業(yè)如：聚對(duì)二甲苯，YL器械等領(lǐng)域可透光涂層膜厚的測(cè)量；

　　半導(dǎo)體行業(yè)如：光刻膠的厚度測(cè)量；加工膜層的厚度測(cè)量，介電層的厚度測(cè)量等；

　　液晶顯示器行業(yè)如：OLED領(lǐng)域各種透明薄膜的厚度測(cè)量，玻璃上面涂層的厚度測(cè)量等。

　　便攜式光學(xué)膜厚儀的應(yīng)用領(lǐng)域極其廣闊，適用于多種行業(yè)以及大學(xué)實(shí)驗(yàn)室等，提供低至納米級(jí)別的薄膜厚度測(cè)量可能。

 

　　便攜式光學(xué)膜厚儀的功能：

　　1、操作過(guò)程有蜂鳴聲提示；

　　2、兩種關(guān)機(jī)方式：手動(dòng)關(guān)機(jī)方式和自動(dòng)關(guān)機(jī)方式；

　　3、電池電壓指示：低電壓提示；

　　4、微功耗設(shè)計(jì)，在待機(jī)裝態(tài)不到10微安的電流；

　　5、采用了磁性測(cè)厚方法，可測(cè)量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度；

　　6、可采用單點(diǎn)校準(zhǔn)和兩點(diǎn)校準(zhǔn)兩種方法對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)；

　　7、可采用基本校準(zhǔn)修正法對(duì)測(cè)頭系統(tǒng)誤差進(jìn)行更新修正，保證儀器在測(cè)量過(guò)程中的準(zhǔn)確性；

　　8、負(fù)數(shù)顯示功能，保證儀器零位點(diǎn)校準(zhǔn)的準(zhǔn)確性，提高測(cè)試精度。