德國ilis公司成立于1998年，專業(yè)研發(fā)制造高精度應(yīng)力雙折射分析軟件與測量設(shè)備，采用成像式光彈原理，直接測量光延遲，可以快速給出高分辨率的高精度測量結(jié)果?？蓪ΣＡ?、晶體、塑料等透明物體等內(nèi)在殘余應(yīng)力進(jìn)行測試，測試精度可達(dá)<0.1nm。產(chǎn)品具有測量速度快、精度高、重復(fù)性好等特點(diǎn)，對大尺寸樣品可拼接測量。其應(yīng)力測量設(shè)備用戶包括肖特、卡爾-蔡司、JENOPTIK、Saint-Gbbain、Euro-Glass等著名公司。應(yīng)用領(lǐng)域包括光學(xué)材料、醫(yī)用包裝材料、高分子類密封材料等。

主要產(chǎn)品有三大系列：M系列高精度型；Flex系列可試式實(shí)時(shí)應(yīng)力儀；S系列實(shí)時(shí)型；M系列大口徑拼接型；

•單口徑一次成像。測量時(shí)間＜45s，測量速度快

•空間分辨率高，低噪聲。

•操作方便、自動(dòng)化測量

•可現(xiàn)場實(shí)時(shí)測量，對環(huán)境要求不苛刻。

•對測量平面光學(xué)元件的表面，無需做過多的表面處理。

•可給出客觀準(zhǔn)確的測量結(jié)果；重復(fù)性好。

•結(jié)果具有可追溯性（通過自動(dòng)保存所有測量數(shù)據(jù))。